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工业诊断.png

 检测概述.png通常高分子材料的个别组分发生变化甚至材料类型发生变化时,从外表上往往无法识别。但是材料的微小差异可能会导致某些性能下降,从而不符合标准要求或导致产品质量下降,或者由于所采购原料的变化或生产工艺的变化导致最终产品质量的变化。产品异常现象比对分析是利用材料的分子图谱特性,制定快速的一致性检测方法,判定产品材料的一致性,从而分析产品异常现象的原因。

   在生产、运输或储存过程中,产品表面往往容易被污染、腐蚀、氧化或通过其它途径产生异常物质或异常现象。针对材料表面出现异常物质或异常现象,通过综合分析方法,确定材料异物物质类型,进而对材料出现异物现象原因进一步分析。

    科创质量与社会各界共同关注工业诊断问题,我们拥有专业的工业诊断检测设备,经验丰富的分析团队,专注于工业诊断质量和安全研究,为您提供专业检测服务

服务项目.png

类别

项目名称

失效分析

通过对某些失效的化工材料产品进行成分分析确定其成分异同

其分析结果可作为推测失效原因的重要参考

副产物分析

通过对某些化学反应的副产物进行成分分析确定其成分及含量

其分析结果可作为优化化学反应的重要依据

异物分析

通过对工业生产中出现的异物进行成分分析确定其成分

其分析结果可作为推测异物产生原因的重要参考


952 (1).png检测标准.png

    一、未知异物分析:主要针对较难辨别异物类型的情况下进行的综合分析,主要是结合了有机异物分析及无机异物分析的方法。其分析手段主要有以下几种:

分析手段

典型应用

分析特点

参考标准

红外光谱FTIR

有机物定性;有机污染物分析

能进行微区分析,其显微镜测量孔径可到8nm或更小,可方便地根据需要选择样品不同部分进行分析

GB/T 6040-2002

扫描电子显微镜&X射线能谱SEM/EDS

表面微观形貌观察;微米级尺寸量测;微区成分分析;污染物分析

能快速的对各种试样的微区内Be~U的大部分元素进行定性、定量分析,分析时间短

JY/T 010-1996
GB/T 17359-2012

飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

有机材料和无机材料的表面微量分析;表面离子成像;深度剖面分析

优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度可以检测到ppm或更低的浓度;深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率;小面积分析

ASTM E1078-2009
ASTM E1504-2011
ASTM E1829-2009

动态二次离子质谱D-SIMS

有机材料和无机材料的表面微量分析;表面离子成像;深度剖面分析

分析区域小,能分析10nm直径的异物成分;分析深度浅,可测量1nm样品;检出限高,一般是ppm-ppb级别

ASTM E1078-2009
ASTM E1504-2011
ASTM E1829-2009

俄歇电子能谱AES

缺陷分析;颗粒分析;深度剖面分析;薄膜成分分析

可以作表面微区分析,并且可以从荧光屏上直接获得俄歇元素像

GB/T 26533-2011

X射线光电子能谱XPS

有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析;表面成分及化学状态信息;深度剖面分析

分析层薄,分析元素广,可以分析样品表面1-12nm的元素和元素含量

GB/T 30704-2014

    二、产品异常现象比对分析一般会运用到高分子材料的以下几个特点:

    ①不同的高分子材料有不同的红外指纹区图谱和分子碎片热裂解图谱;

    ②回收的高分子材料分子量会下降,导致材料的玻璃化温度、结晶度、熔融温度和分解温度的改变;

    ③颜基比和颜填料的改变会在高分子材料的热重变化中反映,并在最后残留的灰分中体现。

    ④高分子材料的改变一般会导致比重(或密度)的变化。

分析手段

典型应用

分析特点

参考标准

红外光谱FTIR

有机物定性;有机污染物分析

能进行微区分析,其显微镜测量孔径可到8nm或更小,可方便地根据需要选择样品不同部分进行分析

GB/T 6040-2002

热重法TGA

高分子材料中填料的含量

准确度高、灵敏快速以及试样微量化

ASTM E2550-2007

差示扫描量热法DSC

测量玻璃化温度、融解、晶化、固化反应、比热容量和热履历

反应灵敏、分辨率高、重复性好、试样用量少

ASTM E1356-2008

检测范围.png落地页面.png咨询1@凡科快图.png

案例展示.png

 项目背景

客户有一个冷却用的软管,在使用过程中出现开裂的现象,想了解一下样品开裂的原因

 服务项目

失效诊断

 客户反馈

将分析结果给到供应商之后,供应商改进了该产品的制作工艺,重新提供的橡胶软管不再出现这样的问题

工业诊断1.png工业诊断2.png工业诊断3.png



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