在生产、运输或储存过程中，产品表面往往容易被污染、腐蚀、氧化或通过其它途径产生异常物质或异常现象。针对材料表面出现异常物质或异常现象，通过综合分析方法，确定材料异物物质类型，进而对材料出现异物现象原因进一步分析。 科创质量与社会各界共同关注工业诊断问题，我们拥有专业的工业诊断检测设备，经验丰富的分析团队，专注于工业诊断质量和安全研究，为您提供专业检测服务 |
类别 | 项目名称 |
失效分析 | 通过对某些失效的化工材料产品进行成分分析确定其成分异同 其分析结果可作为推测失效原因的重要参考 |
副产物分析 | 通过对某些化学反应的副产物进行成分分析确定其成分及含量 其分析结果可作为优化化学反应的重要依据 |
异物分析 | 通过对工业生产中出现的异物进行成分分析确定其成分 其分析结果可作为推测异物产生原因的重要参考 |
一、未知异物分析：主要针对较难辨别异物类型的情况下进行的综合分析，主要是结合了有机异物分析及无机异物分析的方法。其分析手段主要有以下几种：
分析手段 | 典型应用 | 分析特点 | 参考标准 |
红外光谱FTIR | 有机物定性；有机污染物分析 | 能进行微区分析，其显微镜测量孔径可到8nm或更小，可方便地根据需要选择样品不同部分进行分析 | GB/T 6040-2002 |
扫描电子显微镜&X射线能谱SEM/EDS | 表面微观形貌观察；微米级尺寸量测；微区成分分析；污染物分析 | 能快速的对各种试样的微区内Be~U的大部分元素进行定性、定量分析，分析时间短 | JY/T 010-1996 |
飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS | 有机材料和无机材料的表面微量分析；表面离子成像；深度剖面分析 | 优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度可以检测到ppm或更低的浓度；深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率；小面积分析 | ASTM E1078-2009 |
动态二次离子质谱D-SIMS | 有机材料和无机材料的表面微量分析；表面离子成像；深度剖面分析 | 分析区域小，能分析10nm直径的异物成分；分析深度浅，可测量1nm样品；检出限高，一般是ppm-ppb级别 | ASTM E1078-2009 |
俄歇电子能谱AES | 缺陷分析；颗粒分析；深度剖面分析；薄膜成分分析 | 可以作表面微区分析，并且可以从荧光屏上直接获得俄歇元素像 | GB/T 26533-2011 |
X射线光电子能谱XPS | 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析；表面成分及化学状态信息；深度剖面分析 | 分析层薄，分析元素广，可以分析样品表面1-12nm的元素和元素含量 | GB/T 30704-2014 |
二、产品异常现象比对分析一般会运用到高分子材料的以下几个特点：
①不同的高分子材料有不同的红外指纹区图谱和分子碎片热裂解图谱；
②回收的高分子材料分子量会下降，导致材料的玻璃化温度、结晶度、熔融温度和分解温度的改变；
③颜基比和颜填料的改变会在高分子材料的热重变化中反映，并在最后残留的灰分中体现。
④高分子材料的改变一般会导致比重（或密度）的变化。
分析手段 | 典型应用 | 分析特点 | 参考标准 |
红外光谱FTIR | 有机物定性；有机污染物分析 | 能进行微区分析，其显微镜测量孔径可到8nm或更小，可方便地根据需要选择样品不同部分进行分析 | GB/T 6040-2002 |
热重法TGA | 高分子材料中填料的含量 | 准确度高、灵敏快速以及试样微量化 | ASTM E2550-2007 |
差示扫描量热法DSC | 测量玻璃化温度、融解、晶化、固化反应、比热容量和热履历 | 反应灵敏、分辨率高、重复性好、试样用量少 | ASTM E1356-2008 |
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